Besleme Olmadan Hata Bulma :
Arızalı bir karta elektrik vermek tehlikeli ve hatta imkansız olabilir.
Fonksiyonel ATE sistemleri ve genel test ekipmanları (osiloskop) sadece
beslemesi verilmiş kartlarla birlikte kullanılabilirler. Ek olarak oldukça ciddi
teknik bilgi ve devrenin dokümantasyonu gerekmektedir. D&T 1000 elektrik
verilmemiş kartları tamir etmek için dizayn edilmiştir.
Çalışma Sistematiği:
D&T 1000 devreye akım sınırlamalı AC sinyal gerilimi uygulamaktadır. Cihazın
dinamik empedans karakteristiği CRT ekranda gösterilmektedir. En iyi görüntüyü
elde etmek için, D&T 1000 otomatik olarak sinyal seviyesini ayarlamakta ve
teknisyenin karakteristiği tam olarak görebilmesini sağlamaktadır.
Entegre Testi İçin Tarayıcı :
Entegre testini rahatça uygulayabilmek için Test Klipsleri sağlanmıştır. D&T
1000 otomatik olarak kaç pinin test edileceğini belirler ve teknisyen her pini
sırayla tek tek test eder. Karşılaştırmalı modda ikinci bir test klipsi, aynı
elektronik kartın sağlam bir örneğindeki entegreye bağlanır. D&T 1000 her iki
karttaki entegreleri otomatik olarak tarar ve farklılık olan pini test ederken
durur. Bu farklılığın eşik değeri teknisyen tarafından seçilebilmektedir.
|
 |
IGBT, Mosfet, Transistör, Triyak ve Opto Test
D&T 500'in Sinyal (Tetikleme) özelliği üç bacaklı devre elemanlarının da
test edilebilmesini sağlar. Tetikleme ucu bir transistörün baz ucuna yada
Tristörün gate ucuna bağlanarak bu cihazların nasıl iletime geçtikleri ve
kontrol etme yetenekleri gözlemlenebilmektedir.
Her Devre Elemanı Test Edilebilmektedir:
Analog karakteristik sinyallerinin gözlemlenmesi ile analog, dijital,
elektromekanik her türlü devre elemanı üzerinde çalışılabilir. Entegrelerin
büyük bir çoğunluğu giriş ve çıkış pinlerinden arızalandığı için analog
karakteristikleri incelemek mantıklı bir yoldur. Örneğin kısa devre yada açık
devre olmuş pinlerin, kaçak akım oluşturması gibi... Hakkında fazla bilgi
olmayan, açık şeması temin edilemeyen veya özel üretim olan entegrelerin besleme
toprak arası sinyal değerlerine bakmak en uygun arıza tespit metodudur.
Standart Ekipmanlar: Test probları ve Taşıma çantası
Güç Gereksinimi: 200-250V AC 50/60 Hz 45VA
Hat Sigorta Değerleri: 200-250V, 200mA
|
|
D&T 1000 TEKNİK ÖZELLİKLERİ TEST VOLTAJ VE FREKANSLARI |
|
AÇIK DEVRE VOLTAJI |
|
LOGIC (LOJİK) |
10V 5mA |
|
LOW (ALÇAK)) |
10V 150mA |
|
MEDIUM (ORTA)) |
20V 1mA |
|
HIGH (YÜKSEK)) |
50V 1mA |
|
LOCK (KİLİTLİ)) |
Seçilen seviyeleri sınırlandırabilir. |
|
TEST VOLTAJ VE FREKANSLARI DEĞİŞTİRME (TEST SWITCHING) |
|
MANUEL (ELLE) |
Tek bir sürücü kademesi seçer. |
|
AUTO (OTOMATİK) |
Uygun seviyeyi otomatik olarak seçer. |
|
CYCLE (TUR)) |
Adım miktarı ile seçilen oranda her seviyede test eder. |
|
TEST FREKANSLARI (TEST FREQUENCIES) |
|
LOW (ALÇAK)
|
90Hz |
|
MEDIUM (ORTA) |
500Hz |
|
HIGH (YÜKSEK) |
2kHz |
|
KANALLAR (CHANNELS) |
|
CHANNEL A-B
|
A ve B problarından giriş alır. |
|
DISPLAY MODLARI (DISPLAY MODES) |
|
A |
Sadece A Kanalını gösterir. |
|
B |
Sadece B Kanalını gösterir. |
|
A ve B /td>
|
A ve B Kanallarını aynı anda gösterir. |
|
PULSE GENERATOR (DARBE ÜRETİCİ) |
|
PULSE 1 - PULSE 2 MOD
|
DC, sinyal şekli 1, sinyal şekli 2 |
|
LEVEL (SEVİYE)
|
0-5 V |
|
WITDH (GENİŞLİK) /td>
|
Darbe Genişliğini ayarlar(DC Sinyal şekil 1 sinyal şekil 2) |
|
SCANNER (TARAYICI) |
|
TEST |
A ve B Karakteristiklerinin Otomatik Karşılaştırılması. |
|
ERROR TOLERANCE (HATA FARKI)
|
A ve B Karakteristiklerinin Karşılaştırılması için Hassaslık
ayarı. |
|
AUTO TEST (OTOMATİK TEST) |
PINS ve TEST işlemleri otomatik başlatır. |
|
LOOP (TUR)
|
Sürekli Test İşlemini Yapar. |
|
SCROOL UP/DOWN (SAYICI) |
Görüntülenecek pin'lerin manual seçimini sağlar. |
|
ON/OFF (AÇIK/KAPALI) |
Tarayıcı Açar/Kapatır. |
|
ARIZA BULMA İÇİN TEMEL ANLATIMLAR
|
V-I Eğrileri Nedir:
Voltaj/Akım oranına kısaca V-I denmektedir. Bu oran bize
empedansı verir. Tüm elektronik malzemelerin bir V-I karakteristik eğrisi
mevcuttur. Arızalanan malzemelerin karakteristik eğrilerinde değişmeler meydana
gelir. Bu değişimler malzeme devre içerisinde iken dahi kolaylıkla görülebilir.
Mesela, over load ile yanan bir yarı iletken karbonlaşarak direnç şekline
dönüşecek, artık yarı iletken değil, direnç karakteristiği gösterecektir. Açık
devre veya kısa devre olması, bu arızayı daha da belirginleştirir.
|
|
Temel V-I Eğrileri:
En temel bilinmesi gereken V-I eğrileri aşağıda verilmektedir.
Bu grafiklerde yatay eksen voltaj, düşey eksen ise akım eksenidir. Bunlar,
aslında iki adet paralel levha şeklinde düşünülebilir. Düşeydeki paralel
levhalar akıma göre, yataydaki levhalar ise voltaja göre saptırma uygularlar.
Eski tip osiloskopların bazılarında da V-I modu bulunmaktadır. Sonuçta V-I
olarak algıladığımız eğriler birer özel osiloskop eğrilerinden farklı değiller.
|
 |
1- Direnç eğrisi
|
 |
2- Zener diyot eğrisi. Normal diyotlarda karakteristiğin sol tarafında bir iletime geçme yoktur.
|
 |
3- Kondansatör-Bobin Eğrisi: Bu eğriler elips şeklindedir. Fakat
merkeze göre simetriktir. Bobin eğrilerinde iç direnç olduğundan halka düşey
düzlemde biraz yatık oluşur.
|
|
Burada verilen eğriler en temel olanlardır ve devre
dışında görülmesi gereken eğrilerdir. Bu temel eğrilerden yola çıkarak tüm
elektronik malzemelerin testi yapılabilir. Tabi ki programlı malzemelerin
içindeki programın bozulup bozulmadığı programmer (programlayıcı) cihazları ile
mümkündür. Bu eğriler malzeme arızası ile ilgili hatırı sayılır bilgiler
verirler. Malzemelerin yüzey montajlı (SMD) veya SIP, DIP kılıf yapısında
olmaları önemli değildir. SMD kompanentler yapılarındaki P-N fonksiyonlarının
daha hassas olması sebebiyle daha sık ve bariz arıza verirler. Bu arızalar V-I
testi ile açıkça görülür.
V-I Eğrileri ile Arıza Bulma:
Yukarıda anlatıldığı üzere V-I eğrileri arızalanan
malzemelerde değişmektedir. Tüm malzemelerin V-I eğrileri ileri derecede
bilinirse, bir çok arızalı malzeme devre içi ve dışı test edilip arızasını
tespit edilebilir. Eğer sağlam elektronik devre elimizde mevcutsa, arızalı olan
ile V-I eğrileri karşılaştırılarak arızalı malzemelerin bulundukları yerler
lokalize edilebilir ve malzeme bazında arızayı bulunabilir. Yani, devre şemasına
ihtiyaç duymadan, karta besleme enerjisi vermeden arıza kolaylıkla saptanabilir.
V-I eğrilerinde uzmanlaşan kullanıcılar için her zaman sağlam karta gerek
kalmayacaktır. Aynı zamanda elektronik kartın sağlamı bilgisayarın hafızasına
öğretilip daha sonra arızalı kartı, sağlam kartın bilgileri ile karşılaştırma
yoluyla arıza bulunabilmektedir. Hatta bu bilgiler aynı cihaz kullanıcıları ile
dünyanın diğer ucuyla bile paylaşılabilir. Direnç, diyot, bobin ve kondansatör
malzemelerinden yola çıkılarak nasıl tüm malzemeleri test edebiliriz?
|
 |
Transistörler iki tane diyottur ve arıza testleri basittir.
Fet, mosfet ve tristör gibi 3 pinli malzemeler de yarı iletken V-I
eğrileri gösterirler. Digital entegrelerin tüm pinlerinde sigorta maksatlı zener
diyotlar bulunur. Şekilde görüldüğü gibi bu diyotlar besleme veya toprak
tarafından konulmuştur. Eğer devre dışında bir entegrenin tüm pinlerinde düzgün
diyot karakteristiği görülemiyorsa malzeme arızalıdır. Zener diyotlar Vcc
ve/veya GND arasındadır. Yani yukarıda verilen diyot eğrisini gösterirler. Eğer
direnç eğrisine benzer bir eğri veya biraz bozuk bir eğri diğer pinlere kıyasla
görülüyor ise, entegre arızalıdır. Lineer malzemelerden aynı işi yapan
pinler aynı V-I eğrisini gösterirler. 8 adet giriş var ise, bu girişlerin hepsi
aynı eğriyi vermelidir. Bir tanesi farklı ise entegre arızalıdır.
|
 |
|
|
|